2015年2月16日下午，中国人民银行总行李东荣副行长，总行科技司王永红司长、陆书春副司长，工信部电子信息司刁石京司长、彭红兵副司长一行莅临银行卡检测中心(以下简称中心）调研指导工作。中国银联时文朝总裁、戚跃民助理总裁，中国印钞造币总公司敖惠诚董事长、布建臣总经理等单位有关领导陪同调研。

王远祝董事长首先代表中心对总行、工信部及中国银联、中国印钞造币总公司长期以来的关心与支持表示感谢，并对李行长一行莅临指导表示欢迎；范贵甫总经理代表中心汇报了承建的“国家金融IC卡安全检测中心”建设情况、自主可控芯片检测情况及下一步工作计划。李行长一行重点参观了芯片安全检测实验室，听取了相关检测技术介绍、观看了现场演示。

参观后召开了座谈会，会上总行科技司领导对中心的金融IC卡检测工作，特别是在IC卡芯片安全技术研究、开发及检测方面取得的成绩给予充分肯定，并要求中心不断提升技术水平，建成国际知名的检测机构，为产业发展贡献力量。工信部电子信息司领导强调IC卡是电子支付产业的重要核心基础，中心在IC卡芯片安全检测方面取得了令人欣喜的成绩，工信部电子信息司会继续支持中心的发展，并希望今后在做好检测的基础上为产业提供更多的服务，共同推进产业的发展。

最后，李行长作了重要讲话，他对中心在金融IC卡特别是自主可控芯片安全检测方面的科技开发和检测工作给予高度评价。他指出，建成的“国家金融IC卡安全检测中心”在配合我国金融IC卡应用推广方面取得了令人欣喜的成绩，展现了我国在金融IC卡安全检测认证方面取得的成就，填补了我国在金融IC卡芯片安全检测方面的空白，对保障我国金融交易安全及推动产业发展具有重要意义，在产业内的重要作用和权威地位值得高度肯定。这是我们国家金融安全的成绩与突破，很好地提升了我国在国际芯片安全、金融标准化领域的话语权和影响力。同时，李行长对中心未来发展提出了殷切期望。他指出，银行卡产品的检测“使命光荣、任重道远”，随着金融创新技术的迅速发展，中心应继续高度重视金融IC卡检测相关工作，顺势而为，不断提升技术水平，加大投入和人才培养力度，加快国际化步伐，多方共同努力把中心打造成国际一流的检测实验室。

中国银联、中国印钞造币总公司领导也表示，一定按照李行长的要求，尽职履责、携手共进，把中心打造成世界一流的检测机构。

本次调研是李行长2012年来中心调研后的再次莅临指导，从2012年的“不失时机、不辱使命”到2015年的“使命光荣、任重道远”的要求可以看出，这既是李行长对我中心工作的充分肯定，更是殷切的要求和期望。我中心将以此为契机，继续加大科技创新，做好技术服务，当好“中国银行卡和电子支付产业的技术专家和安全卫士”，争取早日将中心建成世界一流的检测机构，为我国银行卡和电子支付产业的健康发展做出更大贡献。