2017年11月9日至10日，银行卡检测中心（以下简称“中心”）派员参加了GlobalPlatform在奥地利维也纳举办的2017秋季全员大会，并出席了TEE安全实验室工作组会议和TEE攻击专家工作组会议。上述两项会议是GP组织在TEE检测技术方面最为核心的技术讨论会，主要议定TEE的测试范畴、测试对象和测试方法论等内容。

在攻击专家工作组会议上中心杨波博士进行了关于“A Class of Fault Injection against TEE via Software-based Techniques （一类基于软件方法的错误注入技术）“的主题演讲。本次演讲得到了与会专家的高度关注，并引发了有关技术创新的热烈讨论。在为期两天的会议中，中心广泛参与了各项议题的深入探讨，为推动TEE技术发展做出了积极贡献。